带无线射频功能的电子产品，除了要解决常规EMC干扰问题外，射频电路和天线与产品中各电路走线、功能组件、关键IC和元器件等部件之间，也会发生电磁干扰问题。主要表现为射频相关信号干扰其他部件，导致性能功能的下降或丧失。另外，由于产品布局布线、器件选型不佳等原因，产品内一些器件在工作时产生的无意发射电磁噪声也会干扰到射频电路和天线，导致射频灵敏度指标的下降，从而影响产品的无线性能。以上两类问题的解决，必须要能够基于实际场景评估干扰风险，准确分析关联器件和部件的辐射特性及射频抗扰度特性。
测量应用：
芯片、器件、模组件抗扰度（RS）测量；
射频抗干扰（Desense）测量；
板级辐射抗扰度（RS）测量；
射频干扰（RFI）诊断测量；
性能参数：
型号：IS32 频段范围：500MHz~6GHz
空间分辨率: 0.02mm
单次测量范围：30cm* 40cm
测量一致性：±2dB测量；
测量模式：2G/3G/4G LTE/5G/BT/WIFI/GPS/北斗导航/FM等